[发明专利]阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板有效
| 申请号： | 201910073005.X | 申请日： | 2019-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN109658855B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 张春旭;戴珂;吴忠厚;江鹏;张云天;邓亚飞 | 申请（专利权）人： | 合肥京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 柴亮;张天舒 |
| 地址： | 230012 安徽省合肥市新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种阵列基板、显示模组及其测试方法、显示面板，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的显示模组难以(尤其在PPI较高时)设置测试区的问题。本发明的阵列基板包括多个用于连接驱动单元的连接区，以及多个用于连接测试头的测试区；每个连接区中设有多个连接端，每个连接端连接引线；每个测试区中设有多个测试端，任意两连接区中测试端的数量和排布方式均相同；测试区分为独立测试区和共享测试区；每个独立测试区对应一个连接区，其中所有测试端均与其对应的连接区中的连接端电连接；每个共享测试区对应多个连接区，其中有多个测试端分别与其所对应的多个连接区中的连接端电连接。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 显示 模组 及其 测试 方法 面板 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板，包括多个用于连接驱动单元的连接区，以及多个用于连接测试头的测试区；每个连接区中设有多个连接端，每个连接端连接引线；每个测试区中设有多个测试端，任意两连接区中测试端的数量和排布方式均相同；其特征在于，所述测试区分为独立测试区和共享测试区；每个所述独立测试区对应一个连接区，其中所有测试端均与其对应的连接区中的连接端电连接；每个所述共享测试区对应多个连接区，其中有多个测试端分别与其所对应的多个连接区中的连接端电连接。
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