[发明专利]一种基于最小二乘拟合的腭皱图像感兴趣区边界标定方法有效

专利信息
申请号: 201910075585.6 申请日: 2019-01-25
公开(公告)号: CN109784335B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 张雄;武晓嘉;罗强;王安红;上官宏;吉新新 申请(专利权)人: 太原科技大学
主分类号: G06V10/25 分类号: G06V10/25;G06V10/24
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 赵红霞
地址: 030024 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 一种基于最小二乘拟合的腭皱图像感兴趣区边界标定方法,属于腭皱识别领域,本发明提出一种基于最小二乘法的腭皱边界标定方法,首先,按照牙齿分布选取特征点;其次,对所选特征点进行边界拟合,标出腭皱区域的边界;最后,构造掩膜,将位于边界外侧的部分剔除,滤除干扰,经过三个样本进行仿真实验及分析,本发明的方法能对腭皱区域实现边界定位,且避免反复迭代运算,节省时间,精确的边界标定方法能够有效提高腭皱数字图像识别的准确率,进而推进法医同一认定的实践化进程。
搜索关键词: 一种 基于 最小 拟合 腭皱 图像 感兴趣 边界 标定 方法
【主权项】:
1.一种基于最小二乘拟合的腭皱图像感兴趣区边界标定方法,其特征在于,按照以下步骤进行:步骤1)图像的获取:从图像库中载入腭皱图像;步骤2)特征点的选取:根据腭皱图像中显示出来的牙齿区域,选取每颗牙齿边缘的几何中心点和牙齿尖点处作为用于拟合的边界特征点。选取的边界点个数N与图像中出现的牙齿个数相同;步骤3)特征点的拟合:根据腭皱区域边界几何特征,自动读取人为选定的特征点坐标,采用最小二乘法拟合多项式,进而得出腭皱图像的拟合边界;步骤4)掩膜滤波:通过对标定好边界的腭皱图像进行像素的赋值处理,遍历图像中所有像素点,将位于该拟合曲线外侧的坐标点,即曲线上侧的像素点灰度值设为0,即以腭皱区域边界作为掩膜边界滤除牙齿等干扰信息。步骤5)输出图像:将干扰信息消除后腭皱图像输出。
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