[发明专利]一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统有效
申请号: | 201910081145.1 | 申请日: | 2019-01-28 |
公开(公告)号: | CN109752394B | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 高敏;姚毅;解三霞;路建伟;马增婷 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统,方法包括获取全局图像,确定缺陷区域;提取缺陷区域的亮暗信息;拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像,确定缺陷所在的具体层位置;根据检测基准对缺陷进行不良品判定;系统包括低精度灰度相机,处理器,高精度彩色相机及显示器;本申请的方法及系统通过高精度彩色相机对缺陷位置局部进行高精度拍摄,可实现缺陷位置局部的子像素级图像处理,同时引入模拟点度量标准来判定亮点亮度,通过对不良程度进行精确量化,保证与实际检测标准对比后检测出的缺陷正确,避免误检。 | ||
搜索关键词: | 一种 显示屏 缺陷 高精度 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种显示屏缺陷高精度检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取全局图像,确定缺陷区域;提取缺陷区域的亮暗信息;拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像,确定缺陷所在的具体层位置;根据检测基准对缺陷进行不良品判定。
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