[发明专利]液晶面板显示异常分析方法在审
| 申请号： | 201910088283.2 | 申请日： | 2019-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN109597231A | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 罗文瑞 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;张洋 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种液晶面板显示异常分析方法。该液晶面板显示异常分析方法通过撕除液晶面板一侧的偏光片，通过光学显微镜从液晶面板撕除偏光片的一侧观察显示异常位置，对该显示异常位置做第一标记，根据所述第一标记定位显示异常子像素，对该显示异常子像素做第二标记，通过电子显微镜根据第二标记观察显示异常子像素，获得显示异常子像素的对比参数，将显示异常子像素的对比参数与预设的标准参数进行对比分析，可以准确分析得到液晶面板显示异常原因，有利于提高产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 显示异常 液晶面板 子像素 对比参数 偏光片 撕除 分析 电子显微镜 光学显微镜 标记定位 标记观察 标准参数 产品良率 对比分析 预设 观察 | ||
【主权项】：
1.一种液晶面板显示异常分析方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、撕除液晶面板(10)一侧的偏光片(14)，通过光学显微镜从液晶面板(10)撕除偏光片(11)的一侧观察显示异常位置，对该显示异常位置做第一标记；步骤S2、根据所述第一标记定位显示异常子像素，对该显示异常子像素做第二标记；步骤S3、通过电子显微镜根据第二标记观察显示异常子像素，获得显示异常子像素的对比参数；步骤S4、将显示异常子像素的对比参数与预设的标准参数进行对比分析以确定显示异常的产生原因。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司，未经深圳市华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910088283.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种LCD模组自动压接点亮设备
- 下一篇：背光模组、背光调节方法及显示装置
