[发明专利]一种大口径望远镜副镜姿态在位调整方法

摘要

本发明提供一种大口径望远镜副镜姿态在位调整方法，选用出瞳与被测望远镜的入瞳重合的平行光管，在中间瞳面的一部分形成检测瞳面；光波前到达波前传感器后被微透镜阵列分成若干个子单元，在探测器靶面上所成的子像将相对于校准的参考子像发生偏移，获取波前每个子单元的斜率，然后基于斜率重构波前获得系统像差情况，以推算副镜姿态的六维变化量，反馈给并联六轴位移平台对副镜进行姿态调整，在此基础上重复获取新的六维变化量再去调整副镜姿态，重复多次循环迭代，逐渐收敛，完成副镜校正目的。本发明通过平行光管即可完成副镜姿态探测任务，造价低，且平行光管仅利用整个望远镜的局部孔径，完全可以探测副镜姿态导致的波前变化。

主权项

1.一种大口径望远镜副镜姿态在位调整方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤100，选用与被测望远镜的主镜按一定比例缩小口径和焦比的平行光管，以与主镜的入射光轴平行的方式安装在被测望远镜上，且平行光管的出瞳与被测望远镜的入瞳重合；步骤200，被测望远镜入瞳经过检测光路的准直镜后，成像于主镜的中间瞳位置，平行光管的孔径成像占据中间瞳面的一部分形成检测瞳面；步骤300，根据检测光路需求选择合适的准直镜参数，进而确定检测瞳面尺寸与适合的波前传感器的参数，将波前传感器放置于检测瞳面，光波前到达波前传感器后被微透镜阵列分成若干个子单元，使探测器获得点阵图像；步骤400，当副镜姿态发生变化时，光波前通过波前传感器的微透镜阵列，在探测器靶面上所成的子像将相对于校准的参考子像发生偏移，计算该偏移量以获取波前每个子单元的斜率，然后基于斜率重构波前，即可获得系统像差情况；步骤500，根据像差值推算副镜姿态的六维变化量，然后反馈给并联六轴位移平台，以该六维变化量对副镜进行姿态调整，在此基础上重复步骤400获取新的六维变化量再去调整副镜姿态，重复多次循环迭代，逐渐收敛，完成副镜校正目的。