[发明专利]列噪声检测方法、装置、介质及系统有效
| 申请号： | 201910103469.0 | 申请日： | 2019-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN109829866B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 孙滨璇 | 申请（专利权）人： | 安谋科技（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 200233 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种列噪声检测方法，包括，接收来自CMOS图像传感器的图像序列，该图像序列中每一帧图像包括N列像素，其中N为正整数；对于图像，从N列像素中取M列，分别检测该帧图像中的M列中的每一列的水平频率响应，以分别确定M列中的每一列是否存在列噪声，并且，在不同图像中检测的像素列互不相同，其中M为正整数,且M＜N；以及将图像中的测得M列像素中的每一列是否存在列噪声的信息缓存到存储器中。与现有技术相比，本申请通过减少在每一帧时间中检测的像素列的数量，节省了用于缓存列噪声信息的片上存储空间。此外，本申请还涉及一种列噪声检测装置、介质及系统。 | ||
| 搜索关键词： | 噪声 检测 方法 装置 介质 系统 | ||
【主权项】：
1.一种噪声检测方法，其特征在于，包括，接收来自CMOS图像传感器的图像序列，所述图像序列中每一帧图像包括N列像素，其中N为正整数；对于所述图像，从所述N列像素中取M列，分别检测该帧图像中的所述M列中的每一列的水平频率响应，以分别确定所述M列中的每一列是否存在列噪声，并且，在不同图像中检测的像素列互不相同，其中M为正整数,且M＜N；以及将所述图像中的测得的所述M列像素中的每一列是否存在列噪声的信息缓存到存储器中。
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