[发明专利]存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201910108386.0 | 申请日： | 2019-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN109828878B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 欧阳志光;叶佳星;邓海东 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置，属于存储设备技术领域。在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。对于主板的存储单元中包括多个存储模块时，可逐个对每个存储模块依次进行检测，防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机，无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 模块 测试 方法 主板 单元 装置 | ||
【主权项】：
1.一种存储模块的测试方法，其特征在于：存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：S1.训练所述存储模块；S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。
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