[发明专利]异常探测系统、支持装置以及异常探测方法有效
| 申请号： | 201910111360.1 | 申请日： | 2019-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN110322583B | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 川之上真辅;宫本幸太 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G07C3/00 | 分类号： | G07C3/00;G06F16/2458;G06F16/248;G06F16/215 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种异常探测系统、支持装置以及异常探测方法，有想要灵活地设定适合于预见性维护在实际生产现场中的应用的判定基准的需求。第1异常探测部包括：计算部，根据异常探测用参数，使用由与监控对象相关的状态值算出的特征量来算出得分；以及判定部，使用由计算部所算出的得分与异常探测用参数中所含的第1判定基准及第2判定基准来分别进行判定，由此，当与第1判定基准一致时输出第1判定结果，当与第2判定基准一致时输出第2判定结果。 | ||
| 搜索关键词： | 异常 探测 系统 支持 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种异常探测系统，其特征在于，包括：控制运算部，执行用于对控制对象进行控制的控制运算；以及第1异常探测部，将由所述控制运算部所收集的状态值中的与监控对象相关的状态值，给予至由异常探测用参数及学习数据集所规定的表示所述监控对象的模型，由此来探测所述监控对象中可能产生的异常；所述第1异常探测部包括：计算部，根据所述异常探测用参数，使用由与所述监控对象相关的状态值算出的特征量来算出得分；以及判定部，使用由所述计算部所算出的得分与所述异常探测用参数中所含的第1判定基准及第2判定基准来分别进行判定，由此，当与所述第1判定基准一致时输出第1判定结果，当与所述第2判定基准一致时输出第2判定结果。
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