[发明专利]可消除互容影响的电容检测装置有效
| 申请号： | 201910114768.4 | 申请日： | 2016-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN110069156B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 肯·克兰德尔;汤马斯派翠克·墨菲;陈信嘉 | 申请（专利权）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址： | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种可消除互容影响的电容检测装置，该电容检测装置包含：控制晶片，该控制晶片包含：多个输入电容，用于同时耦接触控面板的多个第一电极及多个第二电极的信号输入端；驱动电路，通过多个第一开关元件以通过所述多个输入电容输入驱动信号至所述多个第一电极及所述多个第二电极；多个输出电阻，同时耦接所述多个第一电极及所述多个第二电极的信号输出端；及模拟前端，通过多个第二开关元件连接至所述多个输出电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 消除 影响 电容 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电容检测装置，该电容检测装置包含：控制晶片，该控制晶片包含：多个输入电容，用于同时耦接触控面板的多个第一电极及多个第二电极的信号输入端；驱动电路，通过多个第一开关元件以通过所述多个输入电容输入驱动信号至所述多个第一电极及所述多个第二电极；多个输出电阻，同时耦接所述多个第一电极及所述多个第二电极的信号输出端；及模拟前端，通过多个第二开关元件连接至所述多个输出电阻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于原相科技股份有限公司，未经原相科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910114768.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
