[发明专利]用于光学测距的方法和装置

摘要

本发明提供了一种用于测距的方法(10)，其包括执行(105)测量，其中，测量包括发送(106)至少一个测量脉冲，并且如果所发送的测量脉冲在一对象上反射，则接收(107)反射的测量脉冲，且其中，在考虑关于最大测量范围(16)内的对象和/或开放空间的在先信息的情况下执行测量，以便变化地测量最大测量范围(16)的相关性不同的子范围。所述方法(100)包括界定(110a)最大测量范围(16)的子范围、经由相关性分类(110b)所述子范围，并且变化地测量(113)相关性不同的子范围(16a)，其中，与不太相关和/或不相关的子范围相比，更加密集地测量相关的子范围，以便每空间单元发送到相关的子范围中的测量脉冲比不太相关和/或不相关的子范围中的更多。

主权项

1.一种用于光学测距的方法(100)，其中，所述方法(100)包括执行(105)测量；其中，测量包括发送(106)至少一个测量脉冲，并且如果所发送的测量脉冲在一对象上反射，则接收(107)反射的测量脉冲；其中，在考虑关于最大测量范围(16)内的对象和/或开放空间的在先信息的情况下执行(109)测量，以便变化地测量最大测量范围(16)的相关性不同的子范围(16a)；其特征在于：所述方法(100)包括界定(110a)最大测量范围(16)的子范围、经由相关性分类(110b)所述子范围，并且变化地测量(113)相关性不同的子范围(16a)；其中，与不太相关和/或不相关的子范围相比，更加密集地测量相关的子范围，以便每空间单元发送到相关的子范围中的测量脉冲比不太相关和/或不相关的子范围中更多；其中，聚焦区域(15)归类为最大测量范围(16)的相关的子范围，和/或与扫描测量范围的剩余范围相比归类为扫描测量范围的更相关的子范围；其中，所述方法(100)包括执行(114)基本测量以确保基本性能以及执行聚焦测量以详细地分析至少一个聚焦范围(15)，其中所述基本测量用来测量扫描测量范围或最大测量范围(16)；其中，所述方法(100)具有时间预算；其中，所述方法(100)包括一次界定和/或动态地调整(115)如何在最大测量范围(16)的相关性不同的子范围间分配所述时间预算，其中所述时间预算的第一部分用于所述聚焦测量，且所述时间预算的第二部分用于所述基本测量。