[发明专利]一种混合结构SAR-VCO ADC有效
申请号: | 201910127588.X | 申请日: | 2019-02-20 |
公开(公告)号: | CN109936369B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 丁瑞雪;党力;孙德鹏;刘术彬;丁华钰;朱樟明;杨银堂 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H03M1/38 | 分类号: | H03M1/38 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 张捷 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种混合结构SAR‑VCO ADC,包括:粗量化单元、细量化单元和输出单元;其中,所述粗量化单元用于对输入信号进行量化,得到残差信号和第一量化结果;所述细量化单元用于对所述残差信号进行量化,得到第二量化结果;所述输出单元用于根据所述第一量化结果和所述第二量化结果计算最终量化结果。本发明采用两级量化结构,其第一级由粗量化的SAR ADC结构构成,第二级由细量化的VCO‑based ADC结构构成,即利用VCO‑based ADC的固有噪声整形特性对SAR ADC量化后的剩余量进行细量化。在整体上完成10位量化精度的功能,本发明实施例结合了SAR ADC和VCO‑based ADC的优点,在提升量化精度的同时大大减小了功耗和面积。 | ||
搜索关键词: | 一种 混合结构 sar vco adc | ||
【主权项】:
1.一种混合结构SAR‑VCO ADC,其特征在于,包括:粗量化单元、细量化单元和输出单元;其中,所述粗量化单元用于对输入信号进行量化,得到残差信号和第一量化结果;所述细量化单元用于对所述残差信号进行量化,得到第二量化结果;所述输出单元用于根据所述第一量化结果和所述第二量化结果计算最终量化结果。
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