[发明专利]蚀刻SiGe前的预处理组合物和制造半导体器件的方法在审

专利信息
申请号: 201910127992.7 申请日: 2019-02-19
公开(公告)号: CN110277314A 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 金秀珍;李孝善;吴政玟;李晓山;金东铉;金学秀;吴政宰;李明护 申请(专利权)人: 三星电子株式会社;易案爱富科技有限公司
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306;H01L21/308;C23C14/48
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 陈宇;程月
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了蚀刻SiGe前使用的预处理组合物,该组合物包括:酸;醇;具有化学式R‑Si(R1)n(OR2)3‑n的硅烷化合物,其中,R是(C3‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C3‑C20)烷基或(C3‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R1是氢、羟基、卤素、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R2是氢、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基。
搜索关键词: 烷基 芳基 预处理组合物 蚀刻 卤代 半导体器件 硅烷化合物 羟基 制造
【主权项】:
1.一种在蚀刻硅锗之前使用的预处理组合物,所述预处理组合物包括:酸;醇;以及下面式1的硅烷化合物:<式1>R‑Si(R1)n(OR2)3‑n其中,在式1中,R是(C3‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C3‑C20)烷基或(C3‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R1是氢、羟基、卤素、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R2是氢、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,n是0至2的整数,并且R中的烷基、芳基、芳基烷基或烷基芳基以及R1中的烷基、卤代烷基、芳基、芳基烷基或烷基芳基可选择地进一步取代有选自于卤素、羟基、‑N(R11)(R12)和‑S(R13)中的一个或更多个取代基,其中,R11、R12和R13中的每个独立地为氢或(C1‑C20)烷基。
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