[发明专利]蚀刻SiGe前的预处理组合物和制造半导体器件的方法在审
申请号: | 201910127992.7 | 申请日: | 2019-02-19 |
公开(公告)号: | CN110277314A | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 金秀珍;李孝善;吴政玟;李晓山;金东铉;金学秀;吴政宰;李明护 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社;易案爱富科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/308;C23C14/48 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 陈宇;程月 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供了蚀刻SiGe前使用的预处理组合物,该组合物包括:酸;醇;具有化学式R‑Si(R1)n(OR2)3‑n的硅烷化合物,其中,R是(C3‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C3‑C20)烷基或(C3‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R1是氢、羟基、卤素、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R2是氢、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基。 | ||
搜索关键词: | 烷基 芳基 预处理组合物 蚀刻 卤代 半导体器件 硅烷化合物 羟基 制造 | ||
【主权项】:
1.一种在蚀刻硅锗之前使用的预处理组合物,所述预处理组合物包括:酸;醇;以及下面式1的硅烷化合物:<式1>R‑Si(R1)n(OR2)3‑n其中,在式1中,R是(C3‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C3‑C20)烷基或(C3‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R1是氢、羟基、卤素、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,R2是氢、(C1‑C20)烷基、卤代(C1‑C20)烷基、(C6‑C12)芳基、(C6‑C12)芳基(C1‑C20)烷基或(C1‑C20)烷基(C6‑C12)芳基,n是0至2的整数,并且R中的烷基、芳基、芳基烷基或烷基芳基以及R1中的烷基、卤代烷基、芳基、芳基烷基或烷基芳基可选择地进一步取代有选自于卤素、羟基、‑N(R11)(R12)和‑S(R13)中的一个或更多个取代基,其中,R11、R12和R13中的每个独立地为氢或(C1‑C20)烷基。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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