[发明专利]异质结构的制备方法有效
申请号: | 201910129433.X | 申请日: | 2019-02-21 |
公开(公告)号: | CN109904065B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 欧欣;黄凯;赵晓蒙;李文琴;鄢有泉;李忠旭;王曦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L21/18 | 分类号: | H01L21/18;H01L29/06;H01L21/02 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 | 代理人: | 宋缨 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种异质结构的制备方法,包括如下步骤:提供第一衬底,具有离子注入面;自离子注入面进行离子注入,以形成缺陷层;提供第二衬底,具有键合面,将键合面与离子注入面进行键合,得到初始键合结构;基于局部加热的方式对初始键合结构进行加热处理,以沿缺陷层剥离部分第一衬底,以在第二衬底上形成一衬底薄膜,得到包括第二衬底及衬底薄膜的异质结构。本发明基于局部加热的方式实现最终异质结构的制备,局部加热退火工艺可以降低键合结构中的热应力,提高制备过程中异质键合结构的稳定性,从而降低异质键合结构在退火剥离过程中的整体热应力和翘曲,本发明制备的单晶功能薄膜可以用于制备高性能的声学、光学和电学器件及各类传感器件等。 | ||
搜索关键词: | 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种异质结构的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:1)提供第一衬底,且所述第一衬底具有离子注入面;2)自所述离子注入面对所述第一衬底进行离子注入,以在所述第一衬底中形成缺陷层;3)提供第二衬底,且所述第二衬底具有键合面,并将所述键合面与所述离子注入面进行键合,以得到初始键合结构;以及4)基于局部加热的方式对所述初始键合结构进行加热处理,以沿所述缺陷层剥离部分所述第一衬底,使得所述第一衬底的一部分转移至所述第二衬底上,以在所述第二衬底上形成一衬底薄膜,得到包括所述第二衬底及所述衬底薄膜的异质结构。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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