[发明专利]异质结构的制备方法有效

专利信息
申请号: 201910129433.X 申请日: 2019-02-21
公开(公告)号: CN109904065B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 欧欣;黄凯;赵晓蒙;李文琴;鄢有泉;李忠旭;王曦 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L21/18 分类号: H01L21/18;H01L29/06;H01L21/02
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 代理人: 宋缨
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种异质结构的制备方法,包括如下步骤:提供第一衬底,具有离子注入面;自离子注入面进行离子注入,以形成缺陷层;提供第二衬底,具有键合面,将键合面与离子注入面进行键合,得到初始键合结构;基于局部加热的方式对初始键合结构进行加热处理,以沿缺陷层剥离部分第一衬底,以在第二衬底上形成一衬底薄膜,得到包括第二衬底及衬底薄膜的异质结构。本发明基于局部加热的方式实现最终异质结构的制备,局部加热退火工艺可以降低键合结构中的热应力,提高制备过程中异质键合结构的稳定性,从而降低异质键合结构在退火剥离过程中的整体热应力和翘曲,本发明制备的单晶功能薄膜可以用于制备高性能的声学、光学和电学器件及各类传感器件等。
搜索关键词: 结构 制备 方法
【主权项】:
1.一种异质结构的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:1)提供第一衬底,且所述第一衬底具有离子注入面;2)自所述离子注入面对所述第一衬底进行离子注入,以在所述第一衬底中形成缺陷层;3)提供第二衬底,且所述第二衬底具有键合面,并将所述键合面与所述离子注入面进行键合,以得到初始键合结构;以及4)基于局部加热的方式对所述初始键合结构进行加热处理,以沿所述缺陷层剥离部分所述第一衬底,使得所述第一衬底的一部分转移至所述第二衬底上,以在所述第二衬底上形成一衬底薄膜,得到包括所述第二衬底及所述衬底薄膜的异质结构。
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