[发明专利]一种高精度的双面缺陷在线检测装置在审
| 申请号： | 201910130540.4 | 申请日： | 2019-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN109668833A | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 武宏昌;雷国韬;张航;康忠明 | 申请（专利权）人： | 深圳精创视觉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/892 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于光学检测领域，尤其涉及PCB、金属箔、卷材、玻璃及光学膜产业中产品缺陷及瑕疵的高精度的双面缺陷在线检测装置，包括机架模组、上表面检测模组、下表面检测模组、输送模组以及控制器，使用时将待测产品放置在输送模组上，输送模组带动待测样品位移至上表面检测模组以及下表面检测模组，由上表面检测模组和下表面检测模组同时对待测产品进行上表面缺陷检测和下表面缺陷检测，可实时得到精确的测量结果，省时省力，测量效率高，制程人员可根据测量数据及时对上道工序做出修正，同时测量数据也会为下道工序提供参考，也可以根据检测数据对检测产品进行有针对性的复检，提高复检效率，降低劳动强度，节省复检人力，提高产出，应用前景广阔。 | ||
| 搜索关键词： | 检测模 下表面 输送模组 上表面 复检 缺陷在线检测 测量数据 缺陷检测 应用前景广阔 表面检测 测量效率 产品缺陷 待测产品 待测样品 光学检测 机架模组 检测数据 上道工序 下道工序 控制器 光学膜 金属箔 卷材 模组 省力 省时 制程 瑕疵 修正 玻璃 参考 检测 | ||
【主权项】：
1.一种高精度的双面缺陷在线检测装置，其特征在于，包括机架模组、上表面检测模组、下表面检测模组、输送模组以及控制器，其中：所述机架模组用于承载设置在其上的模组；所述上表面检测模组架设在所述机架模组上方，用于对待测产品进行上表面缺陷检测；所述下表面检测模组设置在所述机架模组下方，用于对待测产品进行下表面检测；所述输送模组设置在所述上表面检测模组与下表面检测模组之间的机架模组上，用于对待测产品进行输送；所述控制器分别电性连接所述上表面检测模组、下表面检测模组以及输送模组，用于对所述上表面检测模组、下表面检测模组以及输送模组的工作状态进行控制。
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