[发明专利]基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法

摘要

基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，该方法通过主动面系统中的促动器网络对反射面面形施加一系列微扰，并在扰动过程中测量天线轴向增益的变化。该方法提出以定义于天线口面上的一组正交基函数为扰动模式逐一对面形进行扰动，在每一种扰动模式下，记录天线轴向增益随扰动量变化的曲线，并从中拟合各扰动模式下的最优调整量。通过一系列的扰动、测量和调整过程，最终可使天线增益达到极大值，面形误差达到极小值。该方法对探测器要求低，可使用单像元功率探测器，在望远镜运行过程中可直接利用科学接收机和天文点源目标频繁地开展面形测量和调整，从而使得望远镜在运行过程中的观测效率得以保持。

主权项

1.基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、预先计算理想反射面的增益扰动曲线；步骤二、施加面形扰动，测量扰动后的天线轴向增益，测量后再恢复扰动前的面形状态；步骤三、改变扰动量，重复步骤二，得到天线增益随扰动量变化曲线的采样样本；步骤四、拟合最优扰动量；步骤五、对反射面施加最优扰动，使得面形误差中与该扰动模式对应的分量达到最小；步骤六、改变扰动模式，重复步骤二到步骤五，最终得到的反射面面形误差对所有扰动模式达到极小值，天线增益达到极大值。