[发明专利]探测面板及其制作方法有效
申请号: | 201910142562.2 | 申请日: | 2019-02-26 |
公开(公告)号: | CN109830563B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 华刚;车春城;李成;王建;薛艳娜;张勇;林家强 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;KA图像 |
主分类号: | H01L31/115 | 分类号: | H01L31/115;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种探测面板及其制作方法。该探测面板包括第一基板和第二基板,该第一基板包括光探测层;该第二基板包括驱动电路;该第一基板与该第二基板相对设置以对盒,该驱动电路与该光探测层耦接以读取该光探测层产生的感光信号。该探测面板通过将光探测层与驱动电路形成于不同的基板,有助于提高光探测层的平坦度,减少光探测层的缺陷,从而降低暗态漏电流、提高探测面板的性能。 | ||
搜索关键词: | 探测 面板 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种探测面板,包括第一基板和第二基板,其中,所述第一基板包括光探测层;所述第二基板包括驱动电路;所述第一基板与所述第二基板相对设置以对盒,所述驱动电路与所述光探测层耦接以读取所述光探测层产生的感光信号。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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