[发明专利]激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201910145271.9 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN109886894A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 王威;罗铁庚;唐国富;龙森;江磊;张林亚 申请(专利权)人: 长沙八思量信息技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;B23K26/362
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 410000 湖南省长沙市长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种激光打标图形校正值的计算方法。该方法包括:获得第一图形的初始尺寸,所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形;根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算,得到所述初始参数的校正参考值;按照所述校正参考值进行打标,获得打标后的第二图形;根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差;根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度;若是,则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。本发明还公开了一种激光打标图形校正值的计算装置及计算机可读存储介质。本发明能够实现对激光打标过程进行校正,得到一个激光打标过程中的校正值,提高图形的打标精度。
搜索关键词: 校正 激光打标 初始参数 打标 计算机可读存储介质 参考 预设 计算装置 误差判断 算法 激光
【主权项】:
1.一种激光打标图形校正值的计算方法,其特征在于,所述激光打标图形校正值的计算方法包括以下步骤:获得第一图形的初始尺寸,所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形;根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算,得到所述初始参数的校正参考值;按照所述校正参考值进行打标,获得打标后的第二图形;根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差;根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度;若是,则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。
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