[发明专利]质量分析器有效
| 申请号： | 201910150261.4 | 申请日： | 2015-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN110060918B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 丁力;亚历山大·鲁西诺夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;H01J49/28;H01J49/40 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种质量分析器包括一对电极阵列。每个阵列具有一组聚焦电极，在使用中，所述聚焦电极具有电压，以在电极阵列之间的空间中产生静电场，使得离子在空间中经历周期性的振荡运动，离子在所述聚焦电极组的电极之间穿过，并且在所述电极阵列中间的中心平面被重复地聚焦。每个聚焦电极组中的至少一个电极具有比同组的其它电极的电极表面更接近中心平面的电极表面。所述分析器可以是离子陷阱质量分析器或多匝ToF质量分析器。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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