[发明专利]光纤光栅F-P腔阵列准分布式多参量测量的方法及装置有效
申请号: | 201910150533.0 | 申请日: | 2019-02-28 |
公开(公告)号: | CN109855662B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 余海湖;毕浩;郭会勇;范典;唐健冠;罗斯特;姜德生 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01D5/26 | 分类号: | G01D5/26 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 孙方旭;胡建平 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明设计了一种光纤光栅F‑P腔阵列准分布式多参量测量的方法及装置,具有定点涂层的光纤光栅F‑P腔阵列通过单模光纤与光纤光栅F‑P腔阵列解调仪连接。光纤光栅F‑P腔表面具有多种不同涂层材料。光纤光栅F‑P腔解调仪解调得到光纤光栅F‑P腔反射谱形状及位置。当外界环境变化时,光纤光栅F‑P腔表面不同涂层材料伸缩大小、折射率等变化不同。涂层的改变带动光纤的变化,从而使光纤光栅F‑P腔干涉峰发生改变。通过干涉峰间隔、波长移动等信息,结合灵敏度矩阵方程,解调得到外界参量的变化。利用拉丝塔在线刻写光纤光栅F‑P腔,能够极大提升光纤光栅F‑P腔刻写效率,提高传感器强度,形成准分布式多参量测量的传感器阵列。 | ||
搜索关键词: | 光纤 光栅 阵列 分布式 参量 测量 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光纤光栅F‑P腔阵列准分布式多参量测量的装置,其特征在于,该装置中光源、环形器、光纤光栅F‑P腔传感器阵列、解调仪顺次连接,从光源发出的光经环形器入射到光纤光栅F‑P腔传感器阵列中,反射回环形器,最后进入解调仪;两个光纤光栅构成法布里‑珀罗干涉仪,光栅表面涂覆一种或多种定点涂层材料。
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