[发明专利]一种提高芯片检验效率的卷料设备在审

专利信息
申请号: 201910157082.3 申请日: 2019-03-01
公开(公告)号: CN111634726A 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 龚治利 申请(专利权)人: 成都鑫胜达科技有限公司
主分类号: B65H19/22 分类号: B65H19/22
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 代理人: 邓文武
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种提高芯片检验效率的卷料设备,本发明涉及芯片技术领域,支板前端上方均设置有手轮,且手轮后侧中部固定连接有连接杆,可保证COF卷料缠绕的张紧度,避免COF卷料的质地较硬而导致缠绕松散,立板固定连接在底板顶端中部后侧,且立板左侧上方设置有移动板,立板侧面和移动板右侧均开有滑道,且立板与移动板之间设置有连接块,连接块左右两侧均固定连接滑块,且滑块均位于滑道内并与滑道滑动连接,使用者可通过观察窗来查看COF卷料外观是否良好;解决了卷料设备在卷料过程中不易将COF卷料卷成筒状,卷料设备大多呈封闭状态,使用者不便查看到COF卷料外观是否优良,影响到检验的效率的问题。
搜索关键词: 一种 提高 芯片 检验 效率 设备
【主权项】:
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