[发明专利]硬件设备的调试方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 201910157173.7 | 申请日: | 2019-03-01 |
公开(公告)号: | CN109828879A | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 李双庆;张坤;冯杰 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了硬件设备的调试方法、装置、计算机设备及存储介质,属于电子测试领域。本发明通过对待测设备数据接口进行测试,读取数据接口当前的状态以及与数据接口对应的寄存器的值,通过调节寄存器的值使数据接口的最大有效窗口,实现缩短调试时间,提升待测设备系统稳定性的目的,同时降低了人力成本。 | ||
搜索关键词: | 调试 计算机设备 存储介质 数据接口 硬件设备 寄存器 系统稳定性 待测设备 电子测试 人力成本 设备数据 最大有效 测试 | ||
【主权项】:
1.一种硬件设备的调试方法,其特征在于,包括:对待测设备数据接口进行测试;获取所述待测设备中与所述数据接口对应的寄存器的值,调节所述寄存器的值使所述数据接口的最大有效窗口。
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