[发明专利]一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构

摘要

本发明涉及一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构，它包括机架、配电控制箱和操作显示屏，机架上设置有中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置，中部转盘检测装置包括中部转轴，中部转轴套接有中部检测转盘和中部安装转盘，中部检测转盘上开设有检测孔，且中部安装转盘上安装有穿出检测孔的取料装置，侧部转盘检测装置包括与侧部转动电机连接的侧部转轴，侧部转轴上套接有侧部转盘，侧部转盘上设置有与半导体芯片配合的载具，侧部转盘位于中部转盘的下部，侧部转盘上的一个载具与穿过中部转盘的一个取料装置对接；本发明通过中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置相互配合，实现半导体芯片的多个检测工序一体化进行，极大的提高了检测的效率，降低了检测工时。

主权项

1.一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构，包括机架（1）和配电控制箱（2）其特征在于，所述的机架（1）上设置有相互配合的中部转盘检测装置（6）和侧部转盘检测装置（7），所述的中部转盘检测装置（6）包括与中部转动电机连接的逆时针转动的中部转轴（11），所述的中部转轴（11）从下至上依次套接有中部检测转盘（12）和中部安装转盘（13），所述的中部检测转盘（12）上均匀的开设有检测孔，且中部安装转盘（13）上安装有穿出检测孔的取料装置（14），所述的侧部转盘检测装置（7）包括与侧部转动电机连接的侧部转轴（33），所述的侧部转轴（33）上套接有侧部转盘（34），所述的侧部转盘（34）上设置有与半导体芯片配合的载具，所述的侧部转盘（34）位于中部检测转盘（12）的下部，且侧部转盘（34）与中部检测转盘（12）配合时，侧部转盘（34）上的一个载具与穿过中部检测转盘（12）的一个取料装置（14）对接，所述的中部转动电机、侧部转动电机和取料装置（14）连接到配电控制箱（2）。