[发明专利]一种顺序式波长色散X射线荧光光谱智能分析方法

摘要

本发明公开了一种顺序式波长色散X射线荧光光谱智能分析方法，使用智能分析技术对顺序式波长色散X荧光光谱(XRF)数据进行分析处理。首先对标准样本和待测样本的X射线荧光光谱数据进行去重叠和干扰修正，得到校正后的元素含量数据；然后对获取的标准已知样本的X射线荧光光谱数据，使用适合于稀疏数据的谱聚类方法进行训练和自动聚类；最后分析处理待测样本的X射线荧光光谱数据，使用SVM算法对待测样本予以分类。针对目前国内顺序式波长色散X荧光光谱领域的图谱分析自动化技术相关研究的空白和缺失，本发明能在很大程度上减少XRF分析中的人工干预，从而极大提高了对XRF数据的分析和处理效率，对光谱仪的自动化有着十分重要的意义。

主权项

1.一种顺序式波长色散X射线荧光光谱智能分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：获取标准样品数据；获取的标准样品覆盖所有种类，其中标准样品数记为n，标准样品的数据包括元素含量w_ij和元素荧光强度I_ij，元素含量w_ij为元素j在样品i中的含量，在标准样品中所有元素含量是已知的；经荧光光谱仪测得的元素荧光强度I_ij表示样品i中的元素j所测得的荧光强度，单位为CPS；其中，j∈[1,m]，i∈[1,n]，m表示样品i中含有的元素总量；步骤2：标准样品数据预处理；首先计算出需要考虑的元素的总含量，然后分别计算出各个元素在其中的占比，以此替代含量作为聚类分析的依据；步骤3：对标准样品进行聚类；步骤4：测试待测样本数据，得到待测样品中的元素荧光强度；步骤5：去重叠和干扰修正；步骤6：利用SVM实现对待测样本的分类，确定未知样本的种类。