[发明专利]半导体结构在审

专利信息
申请号: 201910160416.2 申请日: 2019-03-04
公开(公告)号: CN110581131A 公开(公告)日: 2019-12-17
发明(设计)人: 金志昀;林衍廷;戴荣吉;李健玮;丁姮彣;刘威民;李彦儒;宋学昌;郑培仁;李启弘;徐梓翔 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088
代理公司: 72003 隆天知识产权代理有限公司 代理人: 王宇航;黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;TW
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摘要: 一实施例为半导体结构。半导体结构包括基板。鳍状物位于基板上。鳍状物包括硅锗。界面层位于鳍状物上。界面层厚度大于0nm且小于或等于约4nm。源极/漏极区位于界面层上。源极/漏极区包含硅锗。
搜索关键词: 界面层 鳍状物 源极/漏极区 半导体结构 硅锗 基板
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:/n一基板;/n一鳍状物,位于该基板上,且该鳍状物包括硅锗并具有多个凹陷部分;/n一界面层,位于该鳍状物的该些凹陷部分上,且该界面层的厚度介于约1nm至约4nm之间;以及/n一源极/漏极区,位于该界面层上,且该源极/漏极区包括硅锗。/n
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