[发明专利]一种芯片、芯片调试方法及装置、设备、介质有效
| 申请号： | 201910163871.8 | 申请日： | 2019-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN109918303B | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 谢忆纯;马晟厚;吴敬杰;张楠赓 | 申请（专利权）人： | 上海嘉楠捷思信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京市中伦律师事务所 11410 | 代理人： | 杨黎峰;钟锦舜 |
| 地址： | 200436 上海市静*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片、芯片调试方法及装置、设备、介质。该芯片的内部设置有调试模块，调试模块分别连接芯片的内部的总线，以及设置于芯片的外部的调试接口，该方法至少包括：通过调试接口，向调试模块发送调试命令；由调试模块根据所述调试模块的寄存器和调试命令，与总线进行相应的数据交互操作，并将通过交互操作得到的调试结果数据保存于寄存器中；通过调试接口，从寄存器中读取调试结果数据至芯片的外部。通过本申请的方案，能够便利地调试芯片而无需依赖于JTAG接口。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 调试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
1.一种芯片调试方法，其特征在于，所述芯片的内部设置有调试模块，所述调试模块分别连接所述芯片的内部的总线，以及设置于所述芯片的外部的调试接口，所述方法包括：通过所述调试接口，向所述调试模块发送调试命令；由所述调试模块根据所述调试模块的寄存器和所述调试命令，与所述总线进行相应的数据交互操作，并将通过所述交互操作得到的调试结果数据保存于所述寄存器中；通过所述调试接口，从所述寄存器中读取所述调试结果数据至所述芯片的外部。
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