[发明专利]一种γ射线能谱全能峰基底精细化计算方法及系统在审
| 申请号： | 201910164684.1 | 申请日： | 2019-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN110031888A | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 刘立业;赵日;肖运实;曹勤剑;汪屿;金成赫;赵原;夏三强;卫晓峰;潘红娟;李晓敦;刘一聪;熊万春 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G06F17/12 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;于春洋 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种γ射线能谱全能峰基底精细化计算方法及系统，方法包括：S1、获取基于γ能谱中道址为1～N的全能峰区域内相邻两道基底间的递推关系式；S2、基于总计数为全能峰净计数与基底计数之和这一恒等式，结合递推关系式，计算得到全能峰区域各道净计数和基底计数。本发明所提供的方法及系统，基于总计数为全能峰净计数与基底计数之和这一恒等式，改进已有的γ能谱全能峰基底扣减方法，使得扣减的基底与实际情况更吻合，以提高γ能谱分析准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 全能峰 基底 计算方法及系统 射线能谱 精细化 递推 能谱 能谱分析 道基 吻合 改进 | ||
【主权项】：
1.一种γ射线能谱全能峰基底精细化计算方法，其特征在于，包括：S1、获取基于γ能谱中道址为1～N的全能峰区域内相邻两道基底间的递推关系式：Bi‑Bi+1＝λPi i＝0,...,N (1)其中，Bi、Bi+1分别为第i道和第i+1道的基底计数；Pi为第i道的全能峰净计数；Yi为第i道的总计数；λ为待定常数；N为正整数；S2、基于总计数为全能峰净计数与基底计数之和这一恒等式，结合所述递推关系式，计算得到全能峰区域各道净计数和基底计数。
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