[发明专利]一种ROM漏电补偿电路及其设计方法和调节方法在审

专利信息
申请号: 201910183306.8 申请日: 2019-03-12
公开(公告)号: CN109979514A 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 孔伟 申请(专利权)人: 苏州无离信息技术有限公司
主分类号: G11C16/26 分类号: G11C16/26;G11C16/34
代理公司: 苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙) 32367 代理人: 翁德亿
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种ROM漏电补偿电路及其设计方法和调节方法,该电路由若干个漏电补偿PMOS管并联而成,每个漏电补偿PMOS管的漏极分别与ROM读出电路中的总位线连接,其源极则分别与电源电压连接,其栅极均分别接入控制线后与烧录有调节程序控制的控制芯片连接。本发明可以根据ROM中因为存储数据不同带来的漏电不同进行精确的,可调节的漏电补偿,从而降低因为漏电补偿不够带来的电路失效的风险,同时也能有效避免因为漏电补偿过度造成的功耗损失,且对于一套ROM电路而言,不管最终给ROM初始化的值是什么,均无需重新设计一整套ROM电路,只需根据ROM初始化的值调节补偿PMOS管打开的个数来控制补偿电流,节约了成本。
搜索关键词: 漏电 漏电补偿电路 初始化 电源电压连接 程序控制 存储数据 电路失效 读出电路 控制补偿 控制芯片 重新设计 可调节 控制线 总位线 并联 功耗 漏极 烧录 电路 节约
【主权项】:
1.一种ROM漏电补偿电路,其特征在于:由若干个漏电补偿PMOS管(MP0,MP1,...,MPN)并联而成,每个所述漏电补偿PMOS管(MP0,MP1,...,MPN)的漏极均分别与ROM(Data‑Latch)读出电路中的总位线(GBL)连接,每个所述漏电补偿PMOS管(MP0,MP1,...,MPN)的源极均分别与电源电压(VDD)连接,每个所述漏电补偿PMOS管(MP0,MP1,...,MPN)的栅极均分别接入控制线(Control)后与烧录有调节程序控制的控制芯片连接,所述控制线(Control)用于所述控制芯片控制每个漏电补偿PMOS管(MP0,MP1,...,MPN)栅极的电平高低,每个所述漏电补偿PMOS管(MP0,MP1,...,MPN)均具有根据各自栅极的电平高低独立控制开关的功能。
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