[发明专利]一种基于DSP高频相移的自动测试系统及方法有效
| 申请号： | 201910188104.2 | 申请日： | 2019-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN109828160B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 李晓转;谭振伟;杨青;廉杰;孙奕龙 | 申请（专利权）人： | 北京遥感设备研究所 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于DSP高频相移的自动测试系统及方法，首先外部指令解读模块(2)将外部指令输入模块(1)输入的指令(A)进行分解，形成三个指令：是否进行高频相移自动测试的指令(A1)、测试Y/Z方向的指令(A2)和角度偏移量(A3)。当是否进行高频相移的自动测试的指令(A1)为1时，角度参数调整模块(3)首先判断测试Y/Z方向的指令(A2)，若其为1，则根据角度偏移量(A3)确定Y方向的高频相移；若其为0，则根据角度偏移量(A3)确定Z方向的高频相移。角误差存储模块(4)存储Y/Z方向不同高频相移下的角误差。高频相移选择模块(5)比较存储的角误差大小，选择角误差最大值时对应的高频相移为最佳高频相移。该方法提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 dsp 高频 相移 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于DSP高频相移的自动测试系统，其特征在于，所述自动测试系统包括：外部指令输入模块(1)、外部指令解读模块(2)、角度参数调整模块(3)、角误差存储模块(4)和高频相移选择模块(5)；其中，外部指令输入模块(1)输入指令(A)，所述指令(A)用于控制是否进行高频相移的自动测试、测试Y/Z方向和角度偏移量；外部指令解读模块(2)将外部指令输入模块(1)的输入指令(A)进行分解以形成三个指令：是否进行高频相移自动测试的指令(A1)、测试Y/Z方向的指令(A2)和角度偏移量(A3)；所述进行高频相移自动测试的指令(A1)为1时进行高频相移的自动测试；所述进行高频相移自动测试的指令(A1)为0时不进行高频相移的自动测试；所述测试Y/Z方向的指令(A2)为1时进行Y方向高频相移的自动测试；所述测试Y/Z方向的指令(A2)为0时进行Z方向高频相移的自动测试；角度参数调整模块(3)根据解读后的高频相移自动测试的指令(A1)、测试Y/Z方向的指令(A2)和角度偏移量(A3)，确定是否进行高频相移的自动测试、对Y还是Z方向进行测试和当前高频相移的度数，并进行高频相移调整；角误差存储模块(4)存储Y/Z方向不同高频相移下的角误差；高频相移选择模块(5)选择Y/Z方向角误差最大值时对应的高频相移为Y/Z方向最佳高频相移。
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