[发明专利]一种自动测试设备及自动测试系统在审
申请号: | 201910190570.4 | 申请日: | 2019-03-13 |
公开(公告)号: | CN109782155A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 张经祥;魏津;徐润生 | 申请(专利权)人: | 胜达克半导体科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 刘明霞;娄晓丹 |
地址: | 215000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种自动测试设备和自动测试系统,所述自动测试设备包括被测信号回路和其他功能回路,其中所述被测信号回路与所述其他功能回路之间进行地隔离。本发明的实施例的自动测试设备和自动测试系统,由于不同回路之间进行了地隔离,有效地避免了信号之间的串扰,提高了信号质量,尤其是小信号的质量。 | ||
搜索关键词: | 自动测试设备 自动测试系统 被测信号 功能回路 地隔离 有效地 串扰 | ||
【主权项】:
1.一种自动测试设备,其特征在于,所述自动测试设备包括被测信号回路和其他功能回路,其中所述被测信号回路与所述其他功能回路之间进行地隔离。
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