[发明专利]存储器控制器、其操作方法以及包括其的存储装置在审
| 申请号： | 201910193672.1 | 申请日： | 2019-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN110277132A | 公开（公告）日： | 2019-09-24 |
| 发明（设计）人： | 金广勋;孔骏镇;孙弘乐;尹弼相 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 赵南;张青 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本申请提供了一种通过存储器控制器设置读电压的方法和一种存储装置。所述方法包括：通过将测试读电压施加至选择的字线来控制存储器装置从存储器单元中读数据；从存储器装置接收与存储器装置的读操作相对应的单元计数信息，并且通过利用单元计数信息和成本函数更新所述测试读电压以找到最佳读电压，所述成本函数是针对每个读电压电平确定的；以及通过至少一次地执行控制所述存储器装置和更新所述测试读电压来确定读电压。 | ||
| 搜索关键词： | 读电压 存储器装置 存储器控制器 成本函数 存储装置 计数信息 测试 存储器单元 读电压电平 控制存储器 读操作 读数据 更新 字线 施加 申请 | ||
【主权项】：
1.一种通过存储器控制器设置读电压的方法，所述方法包括以下步骤：通过将测试读电压施加至选择的字线来控制存储器装置从多个存储器单元中读数据；从所述存储器装置接收与所述存储器装置的读操作相对应的单元计数信息，并且通过利用所述单元计数信息和成本函数更新所述测试读电压以找到最佳读电压，所述成本函数是针对每个读电压电平确定的；以及通过至少一次地执行所述控制所述存储器装置和所述更新测试读电压来确定所述存储器装置的所述读电压。
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