[发明专利]芯片内存功耗测量方法、装置、设备及介质有效
| 申请号： | 201910194574.X | 申请日： | 2019-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN109933473B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 赵阳;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片内存功耗测量方法，包括：在晶圆针测阶段，通过运行内存自测试算法生成预设内存活动，所述内存自测试算法包括测试单元序列，所述测试单元序列中的每一个测试单元包含一组内存活动，所述预设内存活动能够模拟正常运行模式下的内存活动；测量所述预设内存活动对应的功耗以确定芯片内存功耗。该方法仅激活芯片中的内存部分，而芯片中的逻辑电路部分仍处于关闭状态，因而测量结果不会受到逻辑电路部分干扰，并且能够对每个芯片均进行测量，而不是在封装后抽检，因而能够克服不同晶圆批次的过程变异带来的测量误差，提高测量精度。本申请还公开了一种芯片内存功耗测量装置、设备及介质。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 内存 功耗 测量方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
1.一种芯片内存功耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：在晶圆针测阶段，通过运行内存自测试算法生成预设内存活动，所述内存自测试算法包括测试单元序列，所述测试单元序列中的每一个测试单元包含一组内存活动，所述预设内存活动能够模拟正常运行模式下的内存活动；测量所述预设内存活动对应的功耗以确定芯片内存功耗。
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