[发明专利]一种内存高低温测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 201910201444.4 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN111722972A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 吴伟波;林德先 | 申请（专利权）人： | 深圳玖合精工科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/30 | 分类号： | G06F11/30;G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251 | 代理人： | 刘汉民 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种内存高低温测试装置及其测试方法，该装置结构简单，体积小，待测试内存是插在主板的内存槽上，只是改变内存的测试温度环境，不改变内存在主板的运行环境，内存跟主板的信号传输达到了主板的设计要求，成本低，能实现批量化生产和测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 低温 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳玖合精工科技有限公司，未经深圳玖合精工科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910201444.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：铝合金箱体箱门及箱车厢体
- 下一篇：用于卷积内核的自动生成和调谐工具
