[发明专利]神经元活动检测方法及探测系统有效
| 申请号： | 201910202074.6 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN109793502B | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 裴为华;徐淮良;苏越;吴晓婷 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于阵列光源‑探测器阵列的神经元活动检测方法及探测系统，其中检测方法步骤包括：对受试对象头部的探测区域转染钙离子指示剂；将阵列光源以及探测器阵列对称插入探测区域两侧；阵列光源发光激发对应脑组织区域具有神经活动的神经元发出荧光；探测器阵列探测出荧光强度并将所得荧光强度带入衰减公式，得到不同区域内的等效荧光强度，进而获得神经活动的空间分布。该方法属于脑科学技术领域，能够实现神经活动的高通量和高空间分辨率检测。 | ||
| 搜索关键词： | 神经元 活动 检测 方法 探测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于阵列光源‑探测器阵列的神经元活动检测方法，其步骤包括：将阵列光源以及探测器阵列分别对称放置在受试对象转染有钙离子指示剂的头部探测区域两侧；阵列光源发光激发对应脑组织区域具有神经活动的神经元发出荧光；探测器阵列探测所述荧光的强度；将脑组织区域划分为多个子探测区；建立衰减模型，得到不同子探测区的等效荧光强度；获得神经活动的空间分布，完成空间探测。
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