[发明专利]序列变异校验方法和装置、生产变异序列的方法和装置及电子设备有效
| 申请号： | 201910202271.8 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN109935275B | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 周淼;荆瑞琳;杜洋;李大为;玄兆伶;王海良;肖飞 | 申请（专利权）人： | 北京安诺优达医学检验实验室有限公司;安诺优达基因科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G16B20/20 | 分类号： | G16B20/20;G16B5/00;G16B50/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种序列变异校验方法、生成变异序列的方法、序列变异校正装置、生成变异序列的装置和电子设备。该序列变异校验方法包括：获取原始序列；获取变异信息；获取已变异的待校验序列；以及，基于所述原始序列和所述变异信息校验所述待校验序列以确定所述待校验序列的变异是否正确。这样，增加了变异模拟过程的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 序列 变异 校验 方法 装置 生产 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种序列变异校验方法，其特征在于，包括：获取原始序列；获取变异信息；获取已变异的待校验序列；以及基于所述原始序列和所述变异信息校验所述待校验序列以确定所述待校验序列的变异是否正确。
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