[发明专利]电气外壳和测试电气外壳的密封性质的方法有效
申请号: | 201910206867.5 | 申请日: | 2019-03-19 |
公开(公告)号: | CN110285932B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | B.杜邦;J.费雷拉;C.沃兰廷 | 申请(专利权)人: | 泰科电子法国公司 |
主分类号: | G01M3/26 | 分类号: | G01M3/26 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈曦 |
地址: | 法国蓬*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种电气外壳(1),其设置有通孔(9),该通孔配置为进行电气外壳(1)的密封性质测试。本发明还涉及一种包括电气外壳(1)和插塞(27)的装置,并且还涉及一种密封性质测试方法。 | ||
搜索关键词: | 电气 外壳 测试 密封 性质 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电气外壳,包括至少一个开口和至少一个壁(5),所述开口用于接收电缆和/或连接器,所述壁界定所述电气外壳(1)的内部容积(7)并具有测试通孔(9),所述测试通孔使得可以测试所述电气外壳(1)的密封性质,所述测试孔(9)的尺寸和在所述壁(5)中的位置使得阻止对所述电气外壳(1)的内部部件的接取,所述内部部件设想为用于接收一个或多个带电元件。
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