[发明专利]一种可穿戴设备整机电流测试方法

摘要

一种可穿戴设备整机电流测试方法，一是用户可以在不拆机的情况下，排除对电池充电、锂电池的影响对可穿戴设备的电流进行测试；二是本申请区别于以往单独对某个负载进行测试的方法，创造性的考虑到多个负载之间的相互影响，从多个负载存在相互干扰的前提下，对电流进行测试，这种方式在可穿戴领域未被使用过，甚至未被提及过。

主权项

1.一种可穿戴设备整机电流测试方法，所述方法包括，S1，不拆机切断所述可穿戴设备自身的电池供电电路以及充电电路；S2，外接具有带有电流测试单元的电源电路；S3，查看所述可穿戴设备待机的第一电流；S4，第一芯片连接移动终端或服务器，保持屏幕关闭，测试第二电流值；根据所述第一电流值和所述第二电流值来计算第一芯片保持连接的第三电流值；S5，同步所述可穿戴设备的数据至移动终端或服务器，测试数据传输且屏幕关闭时的第四电流值，根据所述第四电流值和所述第三电流值计算第一芯片传输数据的第五电流值；S6，关闭第一芯片，打开所述可穿戴设备的第二芯片，关闭屏幕，测试第六电流；根据所述第一电流值和所述第六电流值来计算第二芯片保持连接的第七电流值；S7，利用第二芯片同步数据到移动终端或服务器，测试数据传输且屏幕关闭时的第八电流，根据所述第八电流值和所述第七电流值，得到第二芯片数据传输的第九电流值；S9，同时打开第一芯片和第二芯片，关闭屏幕，测试此时的第十电流，若所述第十电流与所述第三电流和第七电流之和的差值小于第一电流阈值，则判断第一芯片和第二芯片连接电流合格；若否，则判断第一芯片和第二芯片同时连接存在干扰；S10，在所述S9的“电流合格”基础上进行，打开第一芯片数据传输，关闭屏幕，测试此时的第十一电流，若所述第十一电流与所述第五电流值和第七电流值之和的差值小于第二电流阈值，则判断第一芯片数据传输对第二芯片的连接无干扰；若否，则判断第一芯片数据会影响第二芯片的连接；S11，在所述S9的“电流合格”基础上进行，打开第二芯片数据传输，关闭屏幕，测试此时的第十二电流，若所述第十二电流与所述第三电流值和第九电流值之和的差值小于第三电流阈值，则判断第二芯片数据传输对第一芯片的连接无干扰；若否，则判断第二芯片数据传输会影响第一芯片的连接；S12，在所述S10的“无干扰”和S11的“无干扰”的基础上，同时打第一芯片数据传输和第二芯片传输，测试此时的第十三电流，若所述第十三电流与所述第五电流值和第九电流值之和的差值小于第四电流阈值，则判断第一芯片传输和第二芯片数据传输之间无干扰；若否，则判断第一芯片传输和第二芯片数据传输相互干扰。