[发明专利]光掩模、光掩模的制造方法和电子器件的制造方法有效
申请号: | 201910211305.X | 申请日: | 2019-03-20 |
公开(公告)号: | CN110297388B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 剑持大介 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/42 | 分类号: | G03F1/42 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 朱丽娟;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供光掩模、其制造方法、光掩模坯体、电子器件的制造方法,防止静电破坏的产生。光掩模(10)具有:转印用图案(35),其在透明基板(21)的主表面上对光学膜进行图案化而形成;以及透光环状部(33),其包围所述转印用图案(35)的外周;以及外周区域(31),其包围所述透光环状部(33)的外周。在所述外周区域(31)中,在所述透明基板(21)上形成有透明导电膜(25),并且,在所述透明导电膜(25)上形成有对所述光学膜进行图案化而成的标记图案。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 制造 方法 电子器件 | ||
【主权项】:
1.一种光掩模,其在透明基板的主表面上具有:转印用图案,其是对光学膜进行图案化而形成的;透光环状部,其包围所述转印用图案的外周;以及外周区域,其包围所述透光环状部的外周,在所述外周区域中,在所述主表面上层叠有透明导电膜和对所述光学膜进行图案化而成的标记图案。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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