[发明专利]R-T-B系烧结磁体的制造方法在审

专利信息
申请号: 201910211946.5 申请日: 2019-03-20
公开(公告)号: CN110299235A 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 藤森信彦 申请(专利权)人: 日立金属株式会社
主分类号: H01F1/057 分类号: H01F1/057;H01F41/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明制造一种降低RH的含量且具有高HcJ和高Hk的R‑T‑B系烧结磁体。一种R‑T‑B系烧结磁体的制造方法,其为具有规定组成的R‑T‑B系烧结磁体的制造方法,其包括:准备合金粉末的工序;得到成形体的成形工序;将所述成形体以处于1010℃~1030℃的范围内的第一烧结温度、处于12小时~36小时的范围内的第一烧结时间进行加热,得到第一烧结体的第一烧结工序;将所述第一烧结体以处于990℃~1020℃的范围内且比所述第一烧结温度低10℃以上的第二烧结温度、处于17小时~41小时的范围且比所述第一烧结时间长5小时以上的第二烧结时间进行加热,从而得到第二烧结体的第二烧结工序;以及,将所述第二烧结体以处于400℃~800℃的范围内的热处理温度进行加热的热处理工序。
搜索关键词: 烧结 烧结磁体 烧结体 加热 烧结工序 成形体 制造 热处理工序 热处理 成形工序 合金粉末
【主权项】:
1.一种R‑T‑B系烧结磁体的制造方法,其是满足下述式(1)的R‑T‑B系烧结磁体的制造方法,[T]/55.85>14[B]/10.8     (1)[T]为以质量%表示的T的含量,[B]为以质量%表示的B的含量,所述R‑T‑B系烧结磁体含有:R:29.5质量%~35.0质量%,其中,R为稀土元素之中的至少1种,且包含Nd和Pr中的至少1种;B:0.80质量%~0.91质量%;Ga:0.2质量%~1.0质量%;以及T:61.5质量%~69.5质量%,其中,T为Fe和Co,T的90质量%~100质量%为Fe,所述制造方法包括:准备合金粉末的工序;将所述合金粉末进行成形而得到成形体的成形工序;将所述成形体以处于1010℃~1030℃的范围内的第一烧结温度、处于12小时~36小时的范围内的第一烧结时间进行加热,得到第一烧结体的第一烧结工序;将所述第一烧结体以处于990℃~1020℃的范围内且比所述第一烧结温度低10℃以上的第二烧结温度、处于17小时~41小时的范围且比所述第一烧结时间长5小时以上的第二烧结时间进行加热,得到第二烧结体的第二烧结工序;以及将所述第二烧结体以处于400℃~800℃的范围内的热处理温度进行加热的热处理工序。
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