[发明专利]一种星载微波成像仪天线在轨发射率的定标方法及装置在审
| 申请号： | 201910217430.1 | 申请日： | 2019-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN110174652A | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 谢鑫新;孟婉婷;李雪;李恩晨;王平凯;董克松 | 申请（专利权）人： | 上海航天测控通信研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S13/89 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 200080 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种星载微波成像仪天线在轨发射率的定标方法及装置，该方法包括以下步骤：S1：获取微波成像仪的一观测区域在一观测时间段的观测辐射量，同时，根据辐射传输模型计算得到微波成像仪的观测区域在观测时间段的模拟辐射量；S2：根据观测辐射量和模拟辐射量，分别计算得到升轨单偏差值和降轨单偏差值；S3：根据升轨单偏差值和降轨单偏差值，计算得到升降轨双偏差值；S4：根据在升轨和降轨情况下天线的物理温度计算天线的物理温度差值，并根据升降轨双偏差值和物理温度差值，计算得到天线在轨发射率，以实现对微波成像仪天线在轨发射率的定标。本发明具有天线在轨发射率计算精准、简单高效的技术特点。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 发射率 辐射量 微波成像仪 观测 定标 观测区域 微波成像 升降轨 时间段 星载 辐射传输模型 技术特点 温度计算 | ||
【主权项】：
1.一种星载微波成像仪天线在轨发射率的定标方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取所述微波成像仪的一观测区域在一观测时间段的观测辐射量，同时，根据辐射传输模型计算得到所述微波成像仪的所述观测区域在所述观测时间段的模拟辐射量；S2：根据所述观测辐射量和所述模拟辐射量，分别计算得到所述微波成像仪升轨情况下的升轨单偏差值和降轨情况下的降轨单偏差值；S3：根据所述升轨单偏差值和所述降轨单偏差值，计算得到升降轨双偏差值；S4：根据在升轨和降轨情况下所述天线的物理温度计算所述天线的物理温度差值，并根据所述升降轨双偏差值和所述物理温度差值，计算得到天线在轨发射率，以实现对所述微波成像仪天线在轨发射率的定标。
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