[发明专利]一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置在审

专利信息
申请号: 201910224892.6 申请日: 2019-03-24
公开(公告)号: CN111735928A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 尹翠哲 申请(专利权)人: 尹翠哲
主分类号: G01N33/204 分类号: G01N33/204
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 051230 河北省石家*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置,其特征在于:包括底板、导柱、导套、顶板、挡圈、红外高度测试仪、垂直传动装置,所述底板可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上,也可以直接放在少子寿命测试仪基座上,所述四个导柱固定底板上,所述四个导套固定在顶板上,所述顶板上表面用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭,所述挡圈用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭,防止其滑动,所述红外高度测试仪由导柱、导套、红外线发射装置组成,红外线高度和少子寿命测试仪探头的高度一致,所述垂直传动装置可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动等方式。
搜索关键词: 一种 测试 多晶 铸造 单晶小方锭 端面 少子 寿命 自动 升降 装置
【主权项】:
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