[发明专利]极紫外光设备及防止极紫外光光源装置被污染的方法有效

专利信息
申请号: 201910227714.9 申请日: 2019-03-25
公开(公告)号: CN110412834B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 吴明发;傅中其;林俊泽;郑博中;杨怀德 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及极紫外光设备及防止极紫外光光源装置被污染的方法。一种极紫外光微影系统,包括极紫外光光源及极紫外光扫描器。微滴产生器在极紫外光光源中提供微滴流。气体屏障是配置以包围微滴流。当激光与流中的微滴反应时,制造极紫外光辐射及离子化粒子。气体屏障可减少传送离子化粒子至微滴捕捉器的污染。极紫外光光源的构件可用电压偏压,以排斥或吸引离子化粒子,进而减少来自于这些离子化粒子的污染。
搜索关键词: 紫外光 设备 防止 光源 装置 污染 方法
【主权项】:
1.一种防止极紫外光光源装置被污染的方法,包括:在一极紫外光光源装置内由一微滴产生器制造一微滴流,该微滴流包括一第一材料;提供一气体屏障在该微滴流周围;以及在提供该气体屏障的同时,发出一激光以蒸发来自该微滴流的一微滴,以制造极紫外光辐射以及该第一材料的粒子,其中该第一材料的所述粒子通过该气体屏障被引导至一微粒捕捉器。
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