[发明专利]一种天线雷达散射截面测量方法、装置及计算机设备在审
申请号: | 201910229631.3 | 申请日: | 2019-03-25 |
公开(公告)号: | CN109975778A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 林浩宇;李进源;王学田;高洪民;李渤;谢晶 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种天线雷达散射截面测量方法及装置,应用于待测天线与辅助天线组成的测量系统中,该方法包括:获取在N个不同位置下测量系统测得的总群时延GDXY、测量系统自身群时延GD0及距离群时延GDd;根据总群时延GDXY、自身群时延GD0及距离群时延GDd生成测量曲线P1xy;根据由待测天线与辅助天线的散射特性及距离确定的拟合参数构建拟合曲线P2xy;根据测量曲线P1xy和拟合曲线P2xy构建目标函数;获取目标函数取最小值时的散射特性最优解;根据散射特性最优解计算待测天线的散射截面。 | ||
搜索关键词: | 群时延 散射截面 散射特性 天线 测量系统 辅助天线 拟合曲线 天线雷达 测量 最优解 构建 测量方法及装置 计算机设备 下测量系统 获取目标 距离确定 目标函数 拟合参数 应用 | ||
【主权项】:
1.一种天线雷达散射截面测量方法,应用于待测天线与辅助天线组成的测量系统中,其特征在于,所述方法包括:获取在N个不同位置下所述测量系统测得的总群时延GDXY、测量系统自身群时延GD0及距离群时延GDd;根据所述总群时延GDXY、自身群时延GD0及距离群时延GDd生成测量曲线P1xy;根据由所述待测天线与辅助天线的散射特性及距离确定的拟合参数构建拟合曲线P2xy;根据所述测量曲线P1xy和拟合曲线P2xy构建目标函数;获取所述目标函数取最小值时的散射特性最优解;根据所述散射特性最优解计算所述待测天线的散射截面。
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