[发明专利]一种光学检具检测方法在审
| 申请号： | 201910243367.9 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109931873A | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 涂成生;涂厚泽 | 申请（专利权）人： | 无锡新吉凯氏测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/12 | 分类号： | G01B11/12;G01B11/00 |
| 代理公司： | 连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙) 32330 | 代理人： | 刘刚 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市新区菱*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学检具检测方法。首先根据被测样品的几何结构和被测特征的位置和方向设计用于固定被测样品和光学影像子系统的专用夹具；再采用标准物和合格样品完成对固定在夹具上的光学影像子系统的标定，完成光学检具的制作；测量时光学检具通过测量软件控制光学影像子系统获得被测样品上的被测特征的影像数据；测量软件对获得的带有被测样件的被测特征的影像数据进行测量和分析，获得被测特征的几何尺寸并保存；光学检具通过多个光学影像子系统完成对被测样品的多个方向和位置的不同被测特征的测量，同时通过测得的特征位置实现样品装夹位置偏差的自校正。本发明适合机械零件的圆孔、槽等几何尺寸的快速、精确的批量测量。 | ||
| 搜索关键词： | 检具 被测样品 光学影像 测量软件 影像数据 测量 夹具 测量和分析 位置和方向 被测样件 合格样品 机械零件 几何结构 特征位置 专用夹具 装夹位置 标准物 自校正 检测 标定 圆孔 保存 制作 | ||
【主权项】：
1.一种光学检具检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：根据被测样品的几何结构和被测特征的位置和方向设计用于固定被测样品和光学影像子系统的专用夹具；S2：采用标准物或合格样品完成对固定在专用夹具上的光学影像子系统的标定，完成光学检具的制作；S3：光学检具通过测量软件控制光学影像子系统获得被测样品的被测特征的影像数据；S4：测量软件对获得的带有被测样件的被测特征的影像数据进行测量和分析，获得被测特征的几何尺寸并保存。
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