[发明专利]密封面缺陷光学检测装置及方法在审
申请号: | 201910245770.5 | 申请日: | 2019-03-28 |
公开(公告)号: | CN109884083A | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 王建涛 | 申请(专利权)人: | 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01M3/38 |
代理公司: | 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 | 代理人: | 王少虹;高瑞 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种密封面缺陷光学检测装置及方法,密封面缺陷光学检测装置包括用于对应密封面上缺陷的位置压紧在密封面上的压紧体和密封件、光源件和感光探头;压紧体的第一表面上设有覆盖在缺陷上的凹槽和密封槽,密封槽呈环形环绕在凹槽的外围并与凹槽相连通;密封件包括密封圈、连接在密封圈内侧并用于贴合密封在密封面的缺陷上的密封条;密封圈容置在密封槽内,密封条位于凹槽内,将凹槽分隔成位于密封条相对两侧的发光腔室和探测腔室;光源件和感光探头分别设置在发光腔室和探测腔室内。本发明用于检测发电机氢冷器、发电机空冷器等设备上密封面的缺陷是否影响密封条回装后的密封效果,是否会发生气体或液体的泄漏,准确性高。 | ||
搜索关键词: | 密封条 密封圈 光学检测装置 密封槽 密封面 密封 发光腔室 感光探头 光源件 密封件 压紧体 发电机空冷器 第一表面 环形环绕 密封效果 探测腔室 贴合密封 相对两侧 上密封 探测腔 发电机 回装 冷器 容置 压紧 分隔 泄漏 外围 室内 检测 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,包括用于对应密封面上缺陷的位置压紧在密封面上的压紧体和密封件、光源件和感光探头;所述压紧体包括相背的第一表面和第二表面;所述压紧体的第一表面上设有覆盖在所述缺陷上的凹槽和密封槽,所述密封槽呈环形环绕在所述凹槽的外围并与所述凹槽相连通;所述密封件包括密封圈、连接在所述密封圈内侧并用于贴合密封在密封面的缺陷上的密封条;所述密封圈容置在所述密封槽内,所述密封条位于所述凹槽内,将所述凹槽分隔成位于所述密封条相对两侧的发光腔室和探测腔室;所述光源件和感光探头分别设置在所述发光腔室和探测腔室内,通过所述感光探头在所述探测腔室内对光的探测判断是否有光从所述发光腔室通过所述密封面上的缺陷穿透至所述探测腔室。
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