[发明专利]基于单电容的FPGA焊点故障诊断方法及诊断装置

摘要

本发明公开了一种基于单电容的FPGA焊点故障诊断方法及诊断装置，将多个FPGA焊点的引脚均连接到一个外接电容器，先设置所有引脚均输出低电平状态，对外接电容器进行放电，然后设置任意一个引脚输出高电平状态，对外接电容器进行充电，并设置除相邻引脚外的所有其它引脚为高阻值状态，并采用高频时钟对相邻引脚的信号进行采样，记录高频时钟采样的周期数获得电容器的充电时间，计算出对应FPGA焊点的电阻值，判断该FPGA焊点是否故障；本发明采用分时电容技术，通过单个电容检测大量FPGA焊点电阻，大大减少了检测焊点的额外元件的数量，可以检测FPGA的所有未使用的引脚，有助于更精确地评估检测到的FPGA的运行状态。

主权项

1.基于单电容的FPGA焊点故障诊断方法，其特征在于，具体包括一下步骤：步骤S1，首先建立FPGA焊点故障诊断方法模型，所述FPGA焊点故障诊断方法模型包括N个FPGA焊点的引脚Pin1至PinN，N个引脚Pin1至PinN均连接一个外接电容器；步骤S2，设置所有N个引脚Pin1至PinN均输出低电平状态，对外接电容器进行放电；步骤S3，设置引脚PinK(1≤K＜N)输出高电平状态，对外接电容器进行充电，并设置所有PinM(1≤M≤N,M≠K,K+1)为高电阻状态；步骤S4，采用高频时钟对引脚Pin(K+1)的信号进行采样，实时获取引脚Pin(K+1)的状态；步骤S5，当引脚Pin(K+1)输出高电平状态时，通过记录高频时钟的周期数即可获取外部电容器的充电时间，进而计算出引脚PinK(1≤K＜N)对应的FPGA焊点的电阻值，判断该FPGA焊点是否故障；步骤S6，再次设置所有N个引脚Pin1至PinN均输出低电平状态，对外接电容器进行放电；步骤S7，将K的值设置为K+1，并重复执行步骤S3至步骤S5；步骤S8，重复执行步骤S7，直到K＝N‑1，得到引脚Pin1至Pin(N‑1)对应的FPGA焊点的电阻值，判断各FPGA焊点是否故障；步骤S9，再次设置所有N个引脚Pin1至PinN均输出低电平状态，对外接电容器进行放电；步骤S10，设置引脚PinN输出高电平状态，对外接电容器进行充电，并设置除Pin1和PinN以外的所有引脚为高电阻状态，通过对引脚Pin1的信号进行采样，获取引脚PinN对应的FPGA焊点的电阻值，判断该FPGA焊点是否故障。