[发明专利]一种蓝宝石衬底片抛光方法在审

专利信息
申请号: 201910248636.0 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN109807695A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 徐永亮;王辽阔;施海斌;柳瑞森;吴鲁;周波 申请(专利权)人: 苏州恒嘉晶体材料有限公司
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;C09G1/02
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 215699 江苏省苏州市张*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请提供了一种蓝宝石衬底片抛光方法,将铜抛后清洗干净的蓝宝石衬底片按照厚度分组,同一组内晶片厚度差异在10μm以内;提供一个陶瓷盘,陶瓷盘表面平整度在3μm以内,用贴蜡机将一组晶片均匀贴在距陶瓷盘边缘1cm的表面上,蜡冷却后晶片固定在陶瓷盘上;抛光机下盘表面贴上suba600或suba800的抛光布,将陶瓷盘贴有晶片的一面向下放置在抛光布上,下压上盘压紧陶瓷盘并使之跟随上盘同步转动,下盘与上盘同向转动,同时抛光布表面喷上粒径大小为80~350nm的的氧化铝抛光液,氧化铝抛光液与水的体积配比为1:6到1:15;抛光过程中,可以通过对抛光液冷却带走热量使抛光机下盘盘面温度控制在30~40℃;抛光结束后取下陶瓷盘,用毛刷对晶片进行冲水清洗。
搜索关键词: 陶瓷盘 晶片 蓝宝石 抛光 衬底片 抛光液 上盘 抛光布 抛光机 氧化铝 冷却 清洗 表面平整度 抛光布表面 厚度差异 晶片固定 抛光过程 体积配比 同步转动 同向转动 下盘表面 下盘盘面 向下放置 冲水 蜡机 粒径 毛刷 取下 贴上 下盘 下压 压紧 分组 申请
【主权项】:
1.一种蓝宝石衬底片抛光方法,其特征在于,所述的方法具体包括以下步骤:预处理:将铜抛后清洗干净的蓝宝石衬底片按照厚度分组,同一组内晶片厚度差异在10μm以内;贴蜡阶段:提供一个陶瓷盘,陶瓷盘表面平整度在3μm以内,用贴蜡机将一组晶片均匀贴在距陶瓷盘边缘1cm的表面上,蜡冷却后晶片固定在陶瓷盘上;使用三角量表以陶瓷盘表面为基准面校零;选一片晶片标记作为起始片,测量晶片中点数据,按此方法,以逆时针将同一组全部测完,并记录下数据;晶片抛光:抛光机下盘表面贴上suba600或suba800的抛光布,将陶瓷盘贴有晶片的一面向下放置在抛光布上,下压上盘压紧陶瓷盘并使之跟随上盘同步转动,下盘与上盘同向转动,同时抛光布表面喷上粒径大小为80~350nm的的氧化铝抛光液,所述氧化铝抛光液与水的体积配比为1:6到1:15,所述氧化铝抛光液可循环回收再次喷到抛光布上;下盘速度为45~55转/分钟,上盘速度为45~55转/分钟,上盘对晶片施加的压力为300~450g/cm2,抛光过程中,可以通过对抛光液冷却带走热量使抛光机下盘盘面温度控制在30~40℃;抛光液PH值可以根据PH计测量并添加氢氧化钾控制在12~13.5之间;抛光时间30分钟~60分钟,抛光液可以循环使用6~10批次;清洗:抛光结束后取下陶瓷盘,用毛刷对晶片进行冲水清洗;检测:使用三角量表从起始片开始逆时针量测晶片中点数据,将抛光后同一片的数据相减,算出去除速率,去除速率可达10μm/h;使用显微镜对晶片表面检查缺陷,划伤率≤5%的晶片放入到晶片盒内,得到蓝宝石衬底片外观检验的良品。
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