[发明专利]一种阵列式发光元件质量检测系统及其使用方法在审
| 申请号： | 201910249324.1 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN109959498A | 公开（公告）日： | 2019-07-02 |
| 发明（设计）人： | 林威添;胡莎 | 申请（专利权）人： | 珠海达明科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人： | 王贤义 |
| 地址： | 519085 广东省珠海市唐*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明旨在提供一种阵列式发光元件质量检测系统及其使用方法，可实现对阵列式发光元件进行点亮并自动计算合格光源数量，发光点尺寸及坏点数量，同时将坏点位置能在测试界面上显示出来。本发明包括底板、工控机、旋转机构、载具、光学处理仪器及点亮装置，所述工控机藏于所述底板的底部，所述载具可对称固定放置在所述旋转机构的两端，所述光学处理仪器设置在所述旋转机构的上方，所述点亮装置配合设置在所述光学处理仪器的下方，所述旋转机构、所述载具、所述光学处理仪器及所述点亮装置均与所述工控机电信号连接。本发明应用于光学元件测试的技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 光学处理 旋转机构 点亮装置 阵列式发光元件 质量检测系统 底板 工控机 测试 对称固定 发光元件 光学元件 坏点位置 机电信号 配合设置 自动计算 发光点 点亮 工控 坏点 载具 光源 应用 | ||
【主权项】：
1.一种阵列式发光元件质量检测系统，其特征在于：它包括底板（1）、工控机（6）、旋转机构（2）、载具（3）、光学处理仪器（4）及点亮装置（5），所述工控机（6）藏于所述底板（1）的底部，所述载具（3）可对称固定放置在所述旋转机构（2）的两端，所述光学处理仪器（4）设置在所述旋转机构（2）的上方，所述点亮装置（5）配合设置在所述光学处理仪器（4）的下方，所述旋转机构（2）、所述载具（3）、所述光学处理仪器（4）及所述点亮装置（5）均与所述工控机（6）电信号连接。
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