[发明专利]半导体存储器元件及其制作方法在审
申请号: | 201910250756.4 | 申请日: | 2016-08-15 |
公开(公告)号: | CN110071108A | 公开(公告)日: | 2019-07-30 |
发明(设计)人: | 王国镇;管式凡;拉尔斯·黑尼克;山·唐 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及半导体存储器元件及其制作方法。本发明公开了一种半导体存储器件,包含半导体基材,具有有源区域及介于有源区域之间的沟渠绝缘区域。各有源区域沿着第一方向延伸。埋入字线,位在半导体基材中,沿着第二方向延伸。各有源区域与两条埋入字线相交,将各有源区域区分为三部位:一位线接触区及两个存储单元接触区。第二方向不垂直于第一方向。位线接触结构,直接设在位线接触区上。存储节点接触结构,直接设在各存储单元接触区上。位线接触结构与存储节点接触结构为共平面。位线,位在半导体基材的主表面上,沿着第三方向延伸。位线直接接触位线接触结构。 | ||
搜索关键词: | 源区域 半导体基材 方向延伸 位线接触 半导体存储器元件 存储节点接触 位线接触区 存储单元 接触区 埋入 位线 字线 半导体存储器件 绝缘区域 不垂直 共平面 主表面 沟渠 制作 相交 申请 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,其包括:有源区域和介于所述有源区域之间的沟渠隔离区域,所述有源区域中的每一者包括在第一方向延伸的长边;埋入字线,其在第二方向延伸,所述埋入字线中的两者与所述有源区域中的每一者相交并将所述有源区域中的每一者分成位线接触区和两个单元接触区,其中所述第二方向不垂直于所述第一方向;位线接触,其与所述位线接触区相邻;存储节点接触,其与所述两个单元接触区中的每一者相邻,其中所述位线接触和所述存储节点接触基本上是共面的;以及至少一个位线,其在第三方向延伸,其中所述至少一个位线和所述位线接触相邻。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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