[发明专利]一种镀层厚度测量方法在审
| 申请号： | 201910255718.8 | 申请日： | 2019-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN110006351A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 蔡利民;汪恒;顾宇鹏;杨英彬 | 申请（专利权）人： | 江汉大学 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 430056 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种镀层厚度测量方法，属于表面工程质量检测技术领域。所述镀层厚度测量方法包括以下步骤：通过电化学反应将测试件一部分的镀层腐蚀掉，露出所述测试件本体表面；通过所述数字显微镜拍摄所述测试件本体表面与所述镀层连接处，获取图像；将所述图像通过拟合算法，画出所述镀层的延长线；测量延长线与所述测试件本体表面之间的间距，获得所述镀层的厚度。本申请镀层厚度测量方法测量简单，测量精度高，不会对人体造成损害。 | ||
| 搜索关键词： | 镀层厚度测量 测试件 镀层 延长线 质量检测技术 测量精度高 电化学反应 数字显微镜 表面工程 镀层腐蚀 方法测量 获取图像 拟合算法 测量 图像 拍摄 申请 损害 | ||
【主权项】：
1.一种镀层厚度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：通过电化学反应将测试件一部分的镀层腐蚀掉，露出所述测试件本体表面；通过所述数字显微镜拍摄所述测试件本体表面与所述镀层连接处，获取图像；将所述图像通过拟合算法，画出所述镀层的延长线；测量延长线与所述测试件本体表面之间的间距，获得所述镀层的厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江汉大学，未经江汉大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910255718.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
