[发明专利]镜面/类镜面物体的缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 201910262066.0 申请日: 2019-04-02
公开(公告)号: CN109916922A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 孙博;郭磊 申请(专利权)人: 易思维(杭州)科技有限公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310051 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种镜面/类镜面物体的缺陷检测方法,包括如下步骤:1)将多幅正弦相移图像按照预设次序投影在待测镜面/类镜面物体表面,利用相机采集图像;2)计算图像上所有点(u,v)处的调制质量Z(u,v);3)计算所有Z(u,v)的均值μ和标准差σ;4)对图像上所有点(u,v)判断|Z(u,v)‑μ|≤mσ,若成立,则无缺陷,若不成立,则标记为缺陷点;m为依据误差范围所确定的系数;本发明通过相机获得正弦条纹图像,进而计算调制信息质量图,通过分析调制信息质量图,能够有效检出高度仅为微米级的缺漆涂层缺陷,成本较低,检测精度可控。
搜索关键词: 镜面 镜面物体 调制信息 缺陷检测 质量图 图像 相机采集图像 正弦条纹图像 标准差 漆涂层 缺陷点 微米级 检出 可控 相移 预设 正弦 调制 投影 相机 检测 分析
【主权项】:
1.一种镜面/类镜面物体的缺陷检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)将多幅正弦相移图像按照预设次序投影在待测镜面/类镜面物体表面,利用相机采集图像,所述图像为灰度图,有多幅,分别包含了各个正弦相移图像在所述待测镜面/类镜面物体表面所形成的影像;2)按照如下公式计算图像上所有点(u,v)处的调制质量Z(u,v);Z(u,v)=B(u,v)/A(u,v)其中,A(u,v)为在点(u,v)处的背景光强,B(u,v)为点(u,v)处的调制光强;3)计算所有Z(u,v)的均值μ和标准差σ;4)对图像上所有点(u,v)判断|Z(u,v)‑μ|≤mσ,若成立,则无缺陷,若不成立,则标记为缺陷点;m为依据误差范围所确定的系数。
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